高分辨透射电子显微镜

中文名称

高分辨透射电子显微镜

所在单位

省部共建国家重点实验室

英文名称

Transmission electron microscope

所在实验室

微观中心

仪器型号

JEM-2100UHR STEM/EDS

所在位置

教六楼

生产公司

日本电子（JEOL）

仪器负责人

李君

仪器功能

主要应用于材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷的观察；物相鉴定，包括晶胞参数的电子衍射测定；高分辨晶格和结构像观察；纳米微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素半定量和分布分析。样品要求为非磁性的稳定样品。可以观察的试样种类：复型样品；金属、陶瓷和玻璃的块体、薄膜和粉末试样。

电 话

027-68862042

性能指标

点分辨率（Point resolution）：0.19nm，

晶格分辨率（Lattice resolution）：0.14nm,

STEM分辨率（STEM Resolution）：1.0nm,

TEM模式束斑尺寸（TEM mode spot size）：20-200nm,

放大倍数（Magnification）：50~1500000，

连续可调加速电压（Accelerating voltage）：160-200kV,

极靴（Pole piece）：UHR,

EDS分辩率（EDS energy resolution）：133eV,

元素分析范围（Elements detectable）：B5-U92

传 真

027-68862085

添置时间

2012年06月

行动状态

正常