中文名称 | 高分辨透射电子显微镜 | 所在单位 | 省部共建国家重点实验室 |
英文名称 | Transmission electron microscope | 所在实验室 | 微观中心 |
仪器型号 | JEM-2100UHR STEM/EDS | 所在位置 | 教六楼 |
生产公司 | 日本电子（JEOL） | 仪器负责人 | 李君 |
仪器功能 | 主要应用于材料的形貌、内部组织结构和晶体缺陷的观察；物相鉴定，包括晶胞参数的电子衍射测定；高分辨晶格和结构像观察；纳米微粒和微区的形态、大小及化学成分的点、线和面元素半定量和分布分析。样品要求为非磁性的稳定样品。可以观察的试样种类：复型样品；金属、陶瓷和玻璃的块体、薄膜和粉末试样。 | 电 话 | 027-68862042 |
性能指标 | 点分辨率（Point resolution）：0.19nm， 晶格分辨率（Lattice resolution）：0.14nm, STEM分辨率（STEM Resolution）：1.0nm, TEM模式束斑尺寸（TEM mode spot size）：20-200nm, 放大倍数（Magnification）：50~1500000， 连续可调加速电压（Accelerating voltage）：160-200kV, 极靴（Pole piece）：UHR, EDS分辩率（EDS energy resolution）：133eV, 元素分析范围（Elements detectable）：B5-U92 | 传 真 | 027-68862085 |
添置时间 | 2012年06月 | 行动状态 | 正常 |
