扫描电子显微镜

中文名称

扫描电子显微镜（配EDAX PHOENIX能谱）

所在单位

省部共建国家重点实验室

英文名称

Scan Electronic Microscope

所在实验室

微观测试中心

仪器型号

PHILIPS XL30 TMP

所在位置

教六楼

生产公司

荷兰PHILIPS公司

仪器负责人

陈晓霞

仪器功能

固体材料微观形貌观察，微区成分分析

电 话

027-68862042

性能指标及应用范围

钨灯丝电子枪，加速电压：0.2～30kV,连续可调，放大倍数：6x～1200,000x，30KV高压下分辨率为3.5nm，3KV电压下分辨率为15nm 环扫条件下分辨率为3.5nm，能谱仪分辨率133eV。

应 用 范 围： 纳米材料、复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、电子材料、导体与非导体地矿、考古等表面微观形貌观察及成分分析。

传 真

027-68862688

添置时间

2001年12月

行动状态

正常